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一种等离子体增强非平衡磁控溅射方法

摘要

本发明属于材料表面改性技术领域,特别涉及到磁控溅射沉积技术。该技术通过两个相对放置的ECR放电腔磁场线圈产生的磁场和平衡磁控靶磁场在沉积室叠加形成会切场磁场位型,该磁场位型有效地约束ECR放电和平衡磁控靶放电产生的等离子体,在薄膜生长表面形成高密度的离子、激活基团,通过控制基片位置、溅射偏压、沉积偏压等工艺参数,可调节各种反应基团的到达比及能量,从而得到符合化学配比的高纯度化合物薄膜。

著录项

  • 公开/公告号CN1338530A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2002-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN01116734.3

  • 申请日2001-04-20

  • 分类号C23C14/35;

  • 代理机构大连理工大学专利事务所;

  • 代理人侯明远

  • 地址 116024 辽宁省大连市凌工路2号

  • 入库时间 2023-12-17 14:15:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-06-18

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2004-10-06

    授权

    授权

  • 2002-03-06

    公开

    公开

  • 2002-01-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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