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誘導結合プラズマ支援型非平衡マグネトロンスパッタ法によりアクリロニトリル-ブタジエン-スチレン樹脂上に作製したNi薄膜に及ぼすイオン照射の効果

机译:离子辐照对电感耦合等离子体辅助非平衡磁控溅射法在丙烯腈-丁二烯-苯乙烯树脂上制备的镍薄膜的影响

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摘要

我々はUM-ICPを用いて,P_TおよびB_Cを変化させてABS上に非加熱でNi薄膜を作製した.I_(ArⅡ)およびI_SはP_TおよびB_Cによって制御可能であり,P_T=500 W以上でB_Cを増加させることで,高いイオン照射効果が得られることが示唆された.作製したNi薄膜の結晶構造に関して,P_T = 500 W以上でB_Cを増加することでイオン照射効果が増加し,作製したNi薄膜のt_(111)が増加して密な膜構造になることが示唆された.作製したNi薄膜のρは結晶構造に依存して変化した.P_T= 500, 600 WにおいてB_Cを増加することでイオン照射効果により膜構造が密になりρが減少することが分かった.作製したNi薄膜の剥離率はすべてのサンプルに対して0%であり,イオン照射効果の程度に関わらず高い密着性となった.%We fabricated Ni films on an Acrylonitrile-Butadiene-Styrene resin (ABS) using unbalanced magnetron sputtering assisted by inductively coupled plasma. The effect of ion irradiation controlled by target DC power P_T and magnetic flux density toward the substrate B_C on the Ni film structures was investigated. Argon ion emission intensity I_(ArⅡ) near the substrate increased with P_T and B_C. In addition, substrate current I_S drastically decreased above P_T = 500 W. We observed that ion irradiation was enhanced by increasing B_C above P_T = 500 W. From x-ray diffraction measurement, the crystallite size t_(111) increased with the effect of ion irradiation. A minimum film resistivity of 1.4 × 10~(-5) Ωcm was measured for P_T = 600 W and B_C = 5 mT. We conclude that controlling the effect of ion irradiation is effective for high quality Ni film formation on ABS.
机译:我们通过使用UM-ICP改变P_T和B_C在ABS上制备了非加热的Ni薄膜,I_(ArII)和I_S可以通过P_T和B_C进行控制,并且P_T = 500 W或更高。建议通过增加B_C来获得高的离子辐照效果,关于所制备的Ni薄膜的晶体结构,在P_T = 500 W或更高时,通过增加B_C可以提高离子辐照效果。提示Ni薄膜的t_(111)增加而形成致密的膜结构,制成的Ni薄膜的ρ根据晶体结构而变化,B_C在P_T = 500、600W时增加结果表明,由于离子照射的作用,膜结构变得致密,ρ降低,所有样品的Ni薄膜的剥离率为0%,无论离子照射的效果如何,均获得高密合性。 %我们使用不平衡磁控溅射和感应耦合等离子体辅助在丙烯腈-丁二烯-苯乙烯树脂(ABS)上制备了镍膜,目标DC功率P_T和朝向基板B_C的磁通密度控制了离子辐照的效果随着P_T和B_C的增加,衬底附近的氩离子发射强度I_(ArII)随P_T和B_C的增加而增加。此外,衬底电流I_S大大降低到P_T = 500 W以上。 P_T = 500W。根据x射线衍射测量,微晶尺寸t_(111)随着离子辐照的影响在P_T = 600 W和B_C = 5 mT的情况下测得的最小膜电阻率为1.4×10〜(-5)Ωcm。我们得出结论,控制离子辐照的效果对于高质量的Ni膜形成是有效的在ABS上。

著录项

  • 来源
    《真空》 |2015年第7期|257-260|共4页
  • 作者

    幸田 龍典; 豊田 宏;

  • 作者单位

    広島工業大学大学院工学系研究科電気電子工学専攻(〒731-5193 広島県広島市佐伯区三宅2-1-1);

    広島工業大学工学部電子情報工学科(〒731-5193 広島県広島市佐伯区三宅2-1-1);

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  • 正文语种 jpn
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