具有可抑制电路规模增大的测试电路的半导体装置和半导体装置的试验装置

摘要

在根据内部地址信号向存储单元阵列写入数据之后,在读出工作中,将从各存储单元读出的数据与期待值数据进行比较。当设置2行备用行、2列备用列时,对于按顺序置换存储单元行和存储单元列的6个顺序分别设置置换判定部。只有当发现了其地址与已存储的不良存储单元的行或列地址中至少一方不同的不良存储单元时,才对与各置换判定部对应地设置的4组存储单元列写入不良地址。