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碲镉汞材料组分分布显示方法和装置

摘要

本发明提供了一种HgCdTe组分分布显示方法和装置,采用扫描单色仪分光,分束片分束,与参考光路比较及红外热象仪成像方法,经过计算机处理给出组分分布。该仪器可以直接描画出材料不同区域的组分,并在数量上给出不同区域的组分平均值;也可以直接给出材料等组分分布图及相应的组分值。本发明可用于判断材料质量和选择制备红外探测器的材料,对HgCdTe材料研究及器件研制有很大的实用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN1150647A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1997-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;

    申请/专利号CN96116242.2

  • 申请日1996-02-06

  • 分类号G01N21/31;

  • 代理机构上海华东专利事务所;

  • 代理人高毓秋

  • 地址 200083 上海市中山北一路420号

  • 入库时间 2023-12-17 12:52:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1997-05-28

    公开

    公开

  • 1997-04-30

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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