用红外透射法确定任意厚度下碲镉汞晶体的组分

摘要

该文选用组分(X=0.170-0.300)均匀碲镉汞晶片作减薄实验，即将样品的厚度从800μm逐次减去处100μm后，在室温下用红外光谱仪测量晶片在不同厚度的透射光谱。