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偏振条纹扫描数字干涉仪

摘要

偏振条纹扫描数字干涉仪是用于光学检验的仪器,它利用起偏器、偏振小孔、四分之一波片组成的位相偏振编码器将被测的位相分布φ(X、Y)编码为不同偏振角分布φ(X、Y)/2,通过旋转检编器进行条纹扫描,其干涉图由电视摄像机接收,送入微机进行数据处理。发明还提供了利用该仪器测量透镜,球面和平面等光学元件的实用光路。该发明的特点是结构简单,操作方便,在一般环境条件下工作,可获得高精密的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN85106007A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1987-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN85106007

  • 发明设计人 伍树东;陈祥桢;陶琇;

    申请日1985-08-06

  • 分类号G01B9/02;G01M11/00;

  • 代理机构中国科学院上海专利事务所;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 上海市8211信箱

  • 入库时间 2023-12-17 11:57:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1988-12-14

    授权

    授权

  • 1988-03-02

    审定

    审定

  • 1987-02-25

    公开

    公开

说明书

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本发明属于干涉仪,主要用于各种光学元件的光学检验。

条纹扫描数字干涉仪是1974年首先由美国贝尔电话公司的J.H.Bruning等人提出的(Appl.Opt.1974,Vol,13,No.11,2693),以后相继被TROPEL.ZYGO公司发展为商品(M.Sohaham    SPIE,1981,Vol,306    183;VS4201473-A),现在条纹扫描数字干涉仪已成为高精度波面测量最有效的手段。

目前条纹扫描数字干涉仪,例如ZYGO干涉仪由光源、条纹扫描干涉装置,光电检测及数据处理系统组成。其中条纹扫描都是采用压电晶体改变一干涉臂的光程来实现,然而这种方法有下列缺点:

1.精密控制压电晶体不易做到;

2.必须采用双臂干涉方法,它对气流和震动极为敏感,使得系统对工作环境条件要求严格;

3.要求高精度参考面,其他光学元件要求也较高;

4.必须使用稳频激光器作光源;

5.干涉条纹不稳定,很难观察象差的零级干涉条纹;

6.系统结构复杂。

为了克服上述缺点,发明人曾于1984年8月在日本第13届国际光学会议上提出了一种新型的条纹扫描原理-偏振条纹扫描,并在中国光学学报上发表了“偏振条纹扫描干涉仪”一文(光学学报,1986,Vol.5,No.2),对偏振条纹扫描原理作了进一步阐述。

本发明的目的是基于发明人提出的原理,提供一种偏振条纹扫描数字干涉仪的实用仪器,并提供利用该仪器测量透镜,球面和平面等光学元件的实用光路和方法。

本发明的技术解决方案是:将波面测量归结为星点测量,并利用本发明的位相偏振编码器将被测的位相分布φ(X,Y)编码为不同偏振角的分布 (φ(X、y))/2 ,再通过旋转检偏器来实现条纹扫描,其干涉图由电视摄象机接收,送入微机进行数据处理。

在(0,π)的检偏角区间内,取N个位置,测得N幅干涉条纹光强分布I(X、Y,K),利用数字同步检测原理可算得各点的相对位相φ(X,Y),即为测得的波面分布。

φ(X、Y)=tg-1(A)/(B)

其中>ΣK>NI(X、Y、K)SinNK

B=ΣK>NI(X、Y、K)Co>NK

本发明的位相偏振编码器(如图二)是由起偏器(12)、偏振板(13)上的偏振小孔(14)和四分之一波片(15)构成的,其相对位置如图三所示,Ep为起偏器(12)的偏振轴方向,E1和E11分别是偏振板(13)的偏振膜的透射方向和消光方向,Ef和Es分别是四分之一波片的快轴和慢轴,Ef与E11,Es与E1均成45°角。当被测波面会聚的星点通过起偏器落在偏振小孔(14)上时,这小孔(可视为标准点源)产生参考波面,其偏振方向为E,由于入射偏振Ep仍有E11分量,故被测波面仍有透射分量,其偏振方向为E11,通过调整起偏器(12)改变Ep与E的夹角α可使参考波面和被测波面的振幅相等,当它们通过四分之一波片(15)被分别转化为左旋偏振和右旋偏振,而它们的合成仍为线偏振,但偏振角为其两者位相差的一半,即φ(x、y)/2,因而实现了位相的偏振编码。

这一位相偏振编码器可用于任何波面,只要使该波面会聚成星点并落在偏振小孔(14)上即可。

本发明的偏振条纹扫描干涉仪与现有的条纹扫描干涉仪相比,具有下列优点:

1.由于扫描方式采用转动检偏器,旋转180°对应于1个波长,因此极易高精度控制,使位相测量灵敏度很高。

2.由于是共光路干涉,对气流和震动不敏感,所以在普通环境条件下即可工作。

3.系统对光学元件要求不高,特别是测透镜时将不要求任何高精度参考面,只要一标准微孔即可。

4.激光源不必使用稳频激光器。

5.干涉条纹极为稳定,很容易调整在零级干涉,测量象差和面形很直观。

6.结构简单,光学元件少。

7.该技术把所有波面测量归结为星点测量,而这种星点测量可以得到高精度定量结果,从而使传统的定性星点测量定量化。

附图说明:

图一是测量透镜、显微物镜的实用系统光路图。

图二是位相偏振编码器的结构示意图。

图三是位相偏振编码器各元件方向安排图。

图四是测量球面的实用系统光路图。

图五是测量平面的部分光路图。

下面结合附图进一步详细说明本发明及实施例。

图二中(12)是起偏器,(13)是偏振膜板,(14)是偏振膜板上的一微孔,即偏振小孔,(15)是四分之一波片,他们的安排方向如图三所示。起偏器(12)可调,以改变起偏器偏振轴方向Ep与偏振小孔透射方向E的夹角α,使干涉条纹对比度达到最大。起偏器(12)应尽量靠近偏振小孔,其理由是:使仪器不受被测元件(特别是对显微镜的测量)的消偏振效应影响;偏振片的使用面积极小,可避免对偏振片高质量面形要求;由于入射在偏振小孔上的光束孔径角很小,它也不致引入额外球差等。

波片(15)采用任何四分之一波片都行,但最好使用费涅尔相板作为四分之一波片。因为普通波片不易高精度加工,普通石英波片由于有胶合,怕热,不能镀高质量增透膜,而费涅尔相板容易实现高精度相移,其端面可以镀高质量增透膜,而且与波长无关,可以适用任意波长。

图一是测量透镜、显微物镜的实用系统的光路图。图中虚线框内是本发明偏振条纹扫描数字干涉仪最主要的部分-偏振条纹扫描检测系统(11),含有上述的位相偏振编码器(5),旋转检偏器(7),电视摄象机(9),微机(10)和微机控制的同步控制机构(8)。最好在位相偏振编码器和旋转检偏器之间加入成象透镜(6)以使干涉条纹清晰地成象在电视摄象机物面上。

在测量透镜或显微物镜中,偏振条纹扫描数字干涉仪的工作情况如下:

激光器(1)发出的激光束被聚光镜(2)聚焦在针孔(3)上,针孔处在被测透镜(4)的物面上,并作标准点光源,其象点落在位相偏振编码器(5)的偏振小孔(14)上(见图二),从而被测波面被偏振编码,通过成象透镜(6)和旋转检偏器(7),产生条纹扫描,干涉图落在电视摄象机(9)的物面上。干涉图被电视摄象机(9)接收,送入微机(10)进行数据处理,在测量过程中微机(10)按程序控制同步控制机构(8)(例如步进马达及齿轮机构组成),驱动旋转检偏器(7)同步旋转以实现同步偏振条纹扫描和同步检测。

图四是测量球面的实用系统的光路图。图中激光器(1)发出的光耦合入单模光纤(16)并引导到显微物镜(18)的一近轴象点(17)上形成点光源,被测球面(19)的球心处于显微物镜(18)的物面轴上,激光由被测球面(19)反射后经显微物镜(18)成象在与点源(17)对称的象面位置,形成星点(20)并落在偏振条纹扫描检测系统(11)的位相偏振编码器(5)的偏振小孔(14)上,利用所说的偏振条纹扫描检测系统(11)即可测量该球面。

实际上,在上述测量球面的实用系统光路中,激光器(1)发出的光只要引导到显微物镜(18)的一近轴象点(17)上形成点光源即可对球面进行测量,而与引导的方式无关,但是采用单模光纤(16)导光,并以其端面作为标准点源,可使激光器与干涉仪的连接更为灵活。

在此测量中,点源(17)和象点(20)必须足够近,例如5毫米,使得它们在显微物镜物方的共轭点离轴足够近,从而不使被测球面引入额外的慧差。

图五是测量平面的部分光路图。即在测量球面的实用系统光路中,将图五中的准直镜(21)代替图四的球面(19)即可测量平面(22)。

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