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集成启动管和采样管的低压超结DMOS结构及制备方法

摘要

本发明公开了集成启动管和采样管的低压超结DMOS结构及制备方法。所述低压超结DMOS结构包括主MOS管、启动MOS管、采样MOS管和多晶电阻;主MOS管的漏极、采样MOS管的漏极与启动MOS管的漏极连接在一起,主MOS管的栅极与采样MOS管的栅极连接,启动MOS管的栅极经所述多晶电阻与启动MOS管的漏极连接,各MOS管的源极经接触孔与有源区金属相连并接零电位,各MOS管之间设置隔离结构,隔离结构通过深槽形成。本发明将采样、启动功能和功率DMOS集成,提高电路的集成度,降低电路中启动损耗和电流采样损耗,从而降低待机功耗,提高能源转换效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111463282A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京华瑞微集成电路有限公司;

    申请/专利号CN202010235416.7

  • 发明设计人 李加洋;胡兴正;薛璐;刘海波;

    申请日2020-03-30

  • 分类号

  • 代理机构南京经纬专利商标代理有限公司;

  • 代理人施昊

  • 地址 211800 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道88号

  • 入库时间 2023-12-17 11:36:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20200330

    实质审查的生效

  • 2020-07-28

    公开

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