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先进光刻胶工艺质量评估方法及系统

摘要

本发明公开了一种先进光刻胶工艺质量评估方法及系统,所述先进光刻胶工艺质量评估系统包括图像获取模块、轮廓提取模块、粗糙度计算模块、拟合模块、特征分析模块和质量评估模块,所述图像获取模块、所述轮廓提取模块、所述粗糙度计算模块、所述拟合模块、所述特征分析模块和所述质量评估模块依次连接,对获取的光刻胶进行光刻,得到电子束显微图像;根据所述电子束显微图像,提取所述光刻胶边缘轮廓,同时计算出边缘粗糙度和宽度粗糙度;利用拟合函数计算功率谱密度曲线,并得到拟合参数,并计算所有所述电子束显微图像的特征参数,根据所述光刻胶的特征值,建立光刻胶质量评估表,能够筛选最佳的光刻胶产品。

著录项

  • 公开/公告号CN111553901A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010350818.1

  • 申请日2020-04-28

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/13(20170101);G03F7/20(20060101);

  • 代理机构32411 南京苏博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈婧

  • 地址 211899 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨路320号科创一号大厦B座21楼

  • 入库时间 2023-12-17 11:32:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    公开

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