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公开/公告号CN111490104A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-08-04
原文格式PDF
申请/专利权人 英特尔公司;
申请/专利号CN201911374497.2
发明设计人 C-J·古;B·塞尔;P-H·王;H·加纳帕蒂;L·C·派普斯;
申请日2019-12-27
分类号
代理机构永新专利商标代理有限公司;
代理人林金朝
地址 美国加利福尼亚
入库时间 2023-12-17 11:24:22
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-04
公开
机译: 使用间隔材料的嵌入式DRAM的隔离间隙填充过程
机译: 用作补偿元件的半导体结构,即DRAM结构,在凹部中具有单晶半导体层,并且在层上电隔离填充材料,其中填充材料填充凹部直至窄间隙
机译: 使用升高的沟槽隔离和隔离间隔物来制造包含堆叠电容器DRAM器件的高密度集成电路的方法
机译:使用金属屏蔽嵌入式浅沟槽隔离(MSE-STI)的高性能单元晶体管设计,用于Gbit代DRAM
机译:首次填充双镶嵌光刻工艺中用于平坦化基板的间隙填充材料的表征
机译:通过使用半球形晶粒技术和LOCOS颈圈工艺来生成小于0.10μm的嵌入式沟槽DRAM
机译:一种高效的浅沟槽隔离间隙填充(STI间隙填充)技术,该技术使用H2蚀刻增强的HDP-CVD工艺处理90nm闪存
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:使用嵌入式倾斜光纤布拉格光栅传感器的碳纤维增强聚合物层压板固化工艺内部残余应变测量
机译:填充复合材料填充物的边界间隙分析
机译:使用平行间隙焊接工艺将引线连接到安装在高温材料上的薄膜热电偶