首页> 中国专利> 嵌入式DRAM的使用间隔物材料的隔离间隙填充工艺

嵌入式DRAM的使用间隔物材料的隔离间隙填充工艺

摘要

本文公开的实施例包括晶体管和形成这种晶体管的方法。在实施例中,晶体管可以包括:半导体沟道,具有第一表面和与第一表面相对的第二表面。在实施例中,源电极可以接触半导体沟道的第一表面,漏电极可以接触半导体沟道的第一表面。在实施例中,栅极电介质可以在半导体沟道的第二表面上方,栅电极可以通过栅极电介质与半导体沟道隔开。在实施例中,隔离沟槽可以与半导体沟道相邻。在实施例中,隔离沟槽包括隔离填充材料以及衬在隔离沟槽的表面的间隔物。

著录项

  • 公开/公告号CN111490104A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN201911374497.2

  • 申请日2019-12-27

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人林金朝

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-12-17 11:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号