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执行半导体动态和静态测试的方法、装置及存储介质

摘要

本发明实施方式提供一种执行半导体动态和静态测试的方法、装置及存储介质,属于半导体的测试技术领域。所述装置包括:母线电容;第一可控开关;负载电感切换模块;第二可控开关;第一信号使能模块;第二信号使能模块;上位机,与所述第一信号使能模块和所述第二信号使能模块连接,用于控制所述第一信号使能模块和所述第二信号使能模块的工作以完成所述动态和静态测试。该方法、装置及存储介质通过采用同一套设备同时实现半导体的动态测试和静态测试操作,解决了现有技术中存在的执行动态测试和静态测试需要两套设备的技术问题,提高了半导体测试的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111426929A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 致瞻科技(上海)有限公司;

    申请/专利号CN202010200347.6

  • 发明设计人 朱楠;辛纪元;潘伟杰;张乐;向礼;

    申请日2020-03-20

  • 分类号

  • 代理机构北京润平知识产权代理有限公司;

  • 代理人肖冰滨

  • 地址 201304 上海市浦东新区丽正路1628号4幢1-2层

  • 入库时间 2023-12-17 10:50:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20200320

    实质审查的生效

  • 2020-07-17

    公开

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