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Computing device executing program performing method of analyzing power noise in semiconductor device, semiconductor device design method, and program storage medium storing program

机译:计算装置执行程序,该程序执行分析半导体装置中的功率噪声的方法,半导体装置设计方法和存储程序的程序存储介质

摘要

A method of analyzing power noise in a semiconductor device includes; generating modified current information by modifying present current information based on a previous analysis result, updating a current vector based on the modified current information, and generating a present analysis result by calculating a voltage vector from the updated current vector.
机译:一种分析半导体器件中的功率噪声的方法,包括:通过基于先前的分析结果修改当前电流信息来生成修改后的电流信息,基于修改后的电流信息来更新电流矢量,以及通过从更新后的电流矢量计算电压矢量来生成当前分析结果。

著录项

  • 公开/公告号US10444276B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US201815949114

  • 发明设计人 YOUNG HOE CHEON;CHAN SEOK HWANG;

    申请日2018-04-10

  • 分类号G06F17/50;G01R31/26;G11C29/50;G11C5/14;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:16:49

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