首页> 中国专利> 检测磁数据存储设备中热弛豫的可能开始的方法和装置

检测磁数据存储设备中热弛豫的可能开始的方法和装置

摘要

具有比实际数据存储使用的最小尺寸小的磁容积范围的参考磁元件或磁位写入数据存储装置或在其中构图,所述参考磁存储元件或位具有这样的尺寸,即使其磁化在比存储元件或位的最小期望弛豫时间更短的时间内弛豫的尺寸。参考磁存储元件或位的磁化探测允许在存储元件或位的重写(再磁化)为必须的信号之前,检测存储元件或位中磁化弛豫的可能开始,可在列、栏或区段上构造这种方案。

著录项

  • 公开/公告号CN1717744B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NXP股份有限公司;

    申请/专利号CN200380104337.7

  • 发明设计人 G·N·菲利浦斯;H·M·B·博伊维;

    申请日2003-11-06

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王波波

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-09-26

    授权

    授权

  • 2012-09-26

    授权

    授权

  • 2007-10-10

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20070907 申请日:20031106

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2007-10-10

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 登记生效日:20070907 变更前: 变更后: 申请日:20031106

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2007-10-10

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20070907 申请日:20031106

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2006-03-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-03-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-01-04

    公开

    公开

  • 2006-01-04

    公开

    公开

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