用于集成电路测试的具有测试引脚和壳体的高隔离接触器

摘要

一种用于测试集成电路的测试插座，具有受控的阻抗，同时保持测试引脚的结构完整性。引脚可以具有侧壁，该侧壁具有沿引脚的长度的厚部和薄部。引脚可以具有突出部，该突出部提供相对于槽的间隔。侧壁本身可以具有延伸到槽中并为引脚提供稳定性的突出部或连接盘。