首页> 中国专利> 一种晶圆背面的检测方法、检测设备及其应用

一种晶圆背面的检测方法、检测设备及其应用

摘要

本发明提供一种晶圆背面的检测方法、检测设备及其应用,其中,检测设备包括晶圆背面检测装置、边缘区域吸盘及中心区域吸盘;晶圆背面检测装置位于晶圆背面下方与晶圆平行设置;边缘区域吸盘用于吸附晶圆背面边缘区域,并显露晶圆背面中心区域;中心区域吸盘用于吸附晶圆背面中心区域,且中心区域吸盘的水平截面不大于晶圆背面中心区域。晶圆背面的检测方法通过边缘区域吸盘、中心区域吸盘分别吸附晶圆背面的边缘区域及中心区域,并通过晶圆背面检测装置检测晶圆背面边缘区域及中心区域的形貌。可获得晶圆背面的具体形貌,准确的判断晶圆背面的杂质的位置及大小,降低生产成本、提高生产效率、节约人力资源及提高产品质量。

著录项

  • 公开/公告号CN110927545A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长鑫存储技术有限公司;

    申请/专利号CN201811095324.2

  • 发明设计人 罗肖飞;

    申请日2018-09-19

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人余明伟

  • 地址 230601 安徽省合肥市合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

  • 入库时间 2023-12-17 07:25:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20180919

    实质审查的生效

  • 2020-03-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号