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晶圆膜层厚度检测方法及洗边边界检测方法

摘要

本发明提供的晶圆膜层厚度检测方法及洗边边界检测方法中,所述晶圆表面设有多个扫描区;预设扫描路径,沿所述扫描路径对各所述扫描区进行扫描,得到各所述扫描区的第一扫描图像;对所述第一扫描图像进行数据处理,得到各所述扫描区的厚度值。过程简单,能够较快的得到所述晶圆膜层的厚度值;进一步的,通过对相邻的两个所述扫描区的厚度值进行差值计算;将所述差值与一预设阈值进行比较,根据比较结果得到洗边边界,其中,若所述差值不在所述预设阈值内,则判断两个所述扫描区之间的扫描边为洗边边界。由此,能够方便的得到洗边边界。

著录项

  • 公开/公告号CN110767566A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201911186920.6

  • 发明设计人 冯亚丽;

    申请日2019-11-27

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹廷廷

  • 地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2023-12-17 07:00:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20191127

    实质审查的生效

  • 2020-02-07

    公开

    公开

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