接触探针和用于测试电子器件的装置的相关探头

摘要

本申请公开了用于测试电子器件的装置的探头的接触探针(20)，包括探针主体(20C)，该探针主体基本上在适于实现与相应接触垫接触的相应端部(20A，20B)之间沿纵向延伸，至少一个端部(20B)的横向尺寸大于探针主体(20C)的横向尺寸。适当地，端部(20B)包括至少一个凹口(23A)，该凹口适于容纳在与已经实现接触探针(20)的基板(25)分离之后产生的位于接触探针(20)上的材料碎屑(24A)。