用于测试电子器件的装置的接触探针和相应测试头

摘要

本文描述了一种用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针(20)，该接触探针包括探针主体(20C)，该探针主体(20C)在适于实现与相应接触垫接触的相应端部(20A，20B)之间沿纵向延伸，至少一个端部(20B)的横向尺寸大于所述探针主体(20C)并包括扩大部分(22)，该扩大部分(22)仅对应于所述接触探针(20)的第一侧壁(23a，23b)突出。适当地，所述至少一个端部(20B)还包括至少一个突起(24)，该至少一个突起(24)从与第一侧壁(23a，23b)相对的第二侧壁(23b，23a)突出并且沿接触探针(20)的纵轴(HH)从所述扩大部分(22)开始朝向第二相对壁(23a，23b)延伸。