检测影响COA基板拼接曝光缺陷的方法

摘要

一种检测影响COA基板拼接曝光缺陷的方法，通过测量各不同拼接区内相连的两个所述色阻层搭接处的长度值、高度值以及所述色阻层的开口的宽度值和长度值，并将所述色阻层搭接处的长度值与数据线的预设宽度值进行比较；再分别测量各不同拼接区内相连的两个所述色阻层搭接处对应的液晶层之间的间隔柱的高度值；最终找出影响COA基板拼接曝光的缺陷，在后续生产中加以管控；有益效果：首先，通过对所述色阻层搭接处的长度值、高度值以及液晶层之间的间隔柱的高度值等关键尺寸的测量，并绘制相关影响曲线，找出影响COA基板拼接曝光缺陷的关键因素；其次，再通过对影响COA基板拼接曝光缺陷的关键因素的控制，改善所述拼接曝光产品的色差和外观缺陷等问题。