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公开/公告号CN110730829A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-01-24
原文格式PDF
申请/专利权人 应用材料公司;
申请/专利号CN201780091524.8
发明设计人 苏小明;尚泽伦;桂仪;R·L·迪纳;孙世尧;
申请日2017-06-01
分类号
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;
代理人徐金国
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 05:22:44
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-02-25
实质审查的生效 IPC(主分类):C23C16/50 申请日:20170601
实质审查的生效
2020-01-24
公开
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机译: PECVD等离子腔室中的基座以及使用该基座的腔室清洁方法
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机译:在Novellus Concept 1介电PECVD工具上使用c-C4F8腔室清洁工艺优化工艺并降低PFC排放
机译:在单个PECVD腔室中沉积的微晶硅太阳能电池p / i界面处的硼污染研究
机译:使用光发射光谱数据进行PECVD腔室清洁终点检测(EPD)
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机译:腔室壁条件对等离子体蚀刻工艺的影响。
机译:有证据表明腔内ER蛋白是从ER后腔室中的分泌蛋白中分选出来的。
机译:关闭以“讨论”在一个温度下从腔室移动到另一个温度“(1961,Asme J.传热,83,第402页)的腔室中从腔室移动到腔室的平板中的温度分布。
机译:对于低成本太阳能阵列项目的大面积硅片工艺,激光区域生长在RIBON-to-RIBBON(RTR)工艺硅片生长发展中