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一种纳米结构几何参数大面积在线测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种纳米结构几何参数大面积在线测量装置及其测量方法,可获得包含整个视场的大面积区域内纳米结构的三维显微形貌。由光源发出的光经过单色仪变为单色光,先后经过准直镜、起偏器和起偏臂端相位补偿器得到椭圆偏振光束后投射至待测纳米结构表面;采集待测纳米结构反射光束中零级衍射光对应的光强信号,计算待测纳米结构的测量成像穆勒矩阵;匹配提取得到对应像素点处待测纳米结构的几何参数值,所有像素点处的几何参数提取值构成待测纳米结构三维显微形貌。本发明能为基于图形转移的批量制造方法如光刻和纳米压印等工艺中所涉及的一维和二维亚波长周期性纳米结构,提供一种大面积、快速、低成本、无接触、非破坏性、精确测量手段。

著录项

  • 公开/公告号CN104482878A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201410733437.6

  • 发明设计人 刘世元;陈修国;杜卫超;张传维;

    申请日2014-12-04

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2023-12-17 04:14:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-19

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/24 申请公布日:20150401 申请日:20141204

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-04-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20141204

    实质审查的生效

  • 2015-04-01

    公开

    公开

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