首页> 中国专利> 应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法

应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法

摘要

本发明公开了一种应用FPGA实现ATE测试波形的Verilog编码方法,采用task语句构建向量周期信号集合的描述,对ATE测试周期向量进行分析,归类周期种类集合;在verilog代码中的向量周期信号描述集合区,对周期种类集合中每种周期对应信号行为进行具体描述,构建出向量周期信号描述集合,向量周期信号描述集合中各个周期信号采用周期信号波形为特征关键字作识别命名周期描述名;利用Case条件语句,以向量周期数作为Case语句触发条件,以周期描述名作为条件选择对象,将周期描述名与指定时钟周期数进行关联,构建出与ATE测试向量描述对应的向量输出列表。本发明能提高由ATE测试向量向FPGA设计实现转换的开发效率和灵活性,能降低开发难度,提高设计效率。

著录项

  • 公开/公告号CN103969574A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201310030605.0

  • 发明设计人 曾志敏;

    申请日2013-01-28

  • 分类号G01R31/3183;

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2023-12-17 00:50:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/3183 申请公布日:20140806 申请日:20130128

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-09-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/3183 申请日:20130128

    实质审查的生效

  • 2014-08-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号