FPGA测试技术及ATE实现

龙祖利; 王子云

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随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法.

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来源
《计算机工程与应用》 |2011年第6期|65-67|共3页
作者
龙祖利; 王子云;
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作者单位

西南科技大学;

四川绵阳621010;

中国工程物理研究院电子工程研究所;

四川绵阳621900;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计与性能分析;
关键词
现场可编程门阵列(FPGA); 多逻辑单元(CLB); 测试; 自动测试系统;

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