公开/公告号CN103718292A
专利类型发明专利
公开/公告日2014-04-09
原文格式PDF
申请/专利权人 弗利普芯片国际有限公司;
申请/专利号CN201280038455.1
申请日2012-08-10
分类号H01L25/16;H01L23/64;
代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司;
代理人余刚
地址 美国亚利桑那州
入库时间 2024-02-19 23:32:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-03-15
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L25/16 申请公布日:20140409 申请日:20120810
发明专利申请公布后的视为撤回
2014-08-27
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L25/16 申请日:20120810
实质审查的生效
2014-04-09
公开
公开
机译: 高密度电感器的薄膜结构和晶圆级封装中的重新分布
机译: 用于测量电阻的带有重分布层的晶片级封装以及使用重分布层测试晶片级封装的电气性能的方法
机译: 用于测量电阻的带有重分布层的晶片级封装以及使用重分布层测试晶片级封装的电气性能的方法