首页> 中国专利> 可靠性测试板以及印制电路板的耐CAF性能测试方法

可靠性测试板以及印制电路板的耐CAF性能测试方法

摘要

本发明公开了一种可靠性测试板,包括测试基板,在测试基板上设有正极测试端、负极测试端以及至少两排测试镀通孔,每排测试镀通孔均包括第一镀通孔和第二镀通孔,第一镀通孔通过第二镀通孔进行逐一间隔,每排测试镀通孔中的第一镀通孔与相邻另一排测试镀通孔中的第二镀通孔相对,所述第一镀通孔分别通过线路与正极测试端连接,所述第二镀通孔分别通过线路与负极测试端连接。基于所述可靠性测试板进行的印制电路板耐CAF性能测试方法,能够更加全面准确地评价印制电路板的耐CAF性能。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-21

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/00 申请公布日:20140423 申请日:20131226

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-05-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20131226

    实质审查的生效

  • 2014-04-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号