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阻障堆叠结构及形成阻障堆叠结构的方法

摘要

本发明是有关于一种阻障堆叠结构及形成阻障堆叠结构的方法。该方法包括提供一基板;以一第一气相沉积工艺形成一导体层于该基板上;以一第二气相沉积工艺形成一第一非晶质薄膜于该导体层上;对该第一非晶质薄膜进行一改质工艺,以将该第一非晶质薄膜改质为一第一阻障层,该第一阻障层包括一第二非晶质薄膜及一晶体化薄膜,其中该晶体化薄膜位于该第二非晶质薄膜的上表面;以一化学气相沉积工艺形成一第二阻障层于该第一阻障层上,以形成阻障堆叠结构。

著录项

  • 公开/公告号CN103456678A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 旺宏电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201210183309.X

  • 发明设计人 柯孟综;

    申请日2012-06-05

  • 分类号H01L21/768;H01L23/532;

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号

  • 入库时间 2024-02-19 22:05:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-20

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/768 申请公布日:20131218 申请日:20120605

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-01-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20120605

    实质审查的生效

  • 2013-12-18

    公开

    公开

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