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一种快速的KDP晶体最佳匹配角精确测量方法

摘要

本发明公开了一种快速的KDP晶体最佳匹配角精确测量方法,包括以下步骤:A1单点调谐曲线的快速测量;A2、晶体全口径的最佳匹配角计算方法;采用快速搜索策略,在最佳匹配角附近获取该测量点在不同角度下的相对转换效率,从而拟合该点的调谐曲线。采用各单点的相对转换效率总和最大规则求取晶体全口径的最佳匹配角。本发明的方法针对现有测量系统存在测量速度慢、计算晶体最佳匹配角存在误差等问题,实现了对KDP晶体最佳匹配角的快速、准确测量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B21/22 授权公告日:20151104 终止日期:20160517 申请日:20130517

    专利权的终止

  • 2015-11-04

    授权

    授权

  • 2013-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/22 申请日:20130517

    实质审查的生效

  • 2013-09-04

    公开

    公开

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