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具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法

摘要

本发明公开了一种具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法,包括以下步骤:第一步,按照器件结构,将漏侧漂移区分为三部分:沟道有源区下的漂移区Loverld、场氧下的漂移区Ldrift1和漏极有源区下的漂移区Ldrift2;将源侧漂移区也分为三部分:沟道有源区下的漂移区Lovers、场氧下漂移区Ldrifts1和源极有源区下的漂移区Ldrifts2;第二步,精确模拟每部分漂移区的电阻特性;采用下述公式模拟器件的栅源电压Vgs、漏源电压Vds和体源电压Vbs对漂移区电阻特性的影响;

著录项

  • 公开/公告号CN103049589A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN201110312430.3

  • 发明设计人 武洁;

    申请日2011-10-14

  • 分类号G06F17/50;

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人张骥

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2024-02-19 18:33:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-22

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20130417 申请日:20111014

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-02-05

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G06F17/50 变更前: 变更后: 登记生效日:20140107 申请日:20111014

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20111014

    实质审查的生效

  • 2013-04-17

    公开

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