集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法

摘要

本发明公开了一种集成电路测试系统，包括一控制设备、一与所述控制设备相连的测试仪、一与所述测试仪相连的负载板、一与所述负载板相连的自动测试机、一与所述自动测试机相连的被测器件。本发明还公开了一种集成电路测试系统的控制方法，本发明的实现，解决了测试仪和测试负载板之间的布线问题，降低了测试成本，提高了测试效率及测试结果输出的正确性。