数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统

摘要

本申请实施例提供一种数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统。包括所述数字集成电路测试装置包括储存模块、控制模块和通道切换模块。所述储存模块包括多个单通道储存单元。所述控制模块包括多个单通道控制电路。所述多个单通道储存单元和所述多个单通道控制电路一一对应连接。每个所述单通道控制电路和与其连接的单通道储存单元构成一个单通道资源组。所述通道切换模块与所述多个单通道控制电路连接，因此每个通道的对应连接关系可以根据需求改变；每个通道的初始化数据和控制程序可以差异化设置，从而提高了所述数字集成电路测试装置使用的灵活性。