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一种通过改进的非接触式光学干涉法测定软黏体粗糙度的方法

摘要

本发明公开了一种测定软黏体粗糙度的方法,包括下列步骤:(1)通过改进的非接触式光学干涉法,测量受法向力状态下的不同目数的砂纸表面,利用光洁透明传压板对不同目数的砂纸传递不同法向力,将砂纸界面的实际表面轮廓问题转化为构成轮廓所需微凸体的高度分布,根据砂纸表面微凸体的高度分布导出砂纸粗糙度概率密度函数,作为标准粗糙度;(2)通过改进的非接触式光学干涉,在与(1)相同的方法对软黏体的表面轮廓进行测量,并根据软黏体表面微凸体的高度分布导出软黏体粗糙度概率密度函数;(3)将步骤(2)得到的结果代入步骤(1)中进行对比,得到的数值与哪个目数砂纸的相符合,即定义黏性土粗糙度为该目数。本发明首次确定了软黏体粗糙度的方法,并将软黏体的粗糙度代换为标准砂纸的粗糙度,推进了粗糙度的标准化表达;采用非接触的方式测量粗糙度,可以最大限度的还原受力时软黏体的原始表面轮廓。

著录项

  • 公开/公告号CN110631520A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 青岛科信信息科技有限公司;

    申请/专利号CN201910954383.9

  • 发明设计人 杨苏春;

    申请日2019-10-09

  • 分类号

  • 代理机构北京中济纬天专利代理有限公司;

  • 代理人赵园园

  • 地址 266000 山东省青岛市市北区嘉兴路6号

  • 入库时间 2024-02-19 16:40:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-31

    公开

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