机译:准单色光源和相移干涉法测定平面光学元件的表面粗糙度
Raja Ramanna Centre for Advanced Technology, Department of Atomic Energy, Indore 452013, India;
Raja Ramanna Centre for Advanced Technology, Department of Atomic Energy, Indore 452013, India;
surface roughness; optical path difference; Sagnac interferometer; phase shifting interferometry; polarization phase shift;
机译:使用环形光源和偏振相移干涉术测量具有减少的干涉空间相干伪影的光学表面的表面形状误差
机译:光学干涉法在三维粗糙度参数中凹面孔的误差评价
机译:使用白光干涉法可重复测量光学表面粗糙度的方法开发
机译:使用白光干涉测量评估表面粗糙度和波纹,用于短期植入,高度交联的髋臼组分
机译:使用两个和多个波长相移干涉仪和低相干源的反射和透射光学计量。
机译:用于光学测试的合成相移:点衍射干涉测量法没有零光学器件或相移器
机译:使用白光干涉测量的光学表面可再现粗糙度测量的过程开发
机译:用相移干涉法测量大孔径光学元件的波前结构