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用于金属栅极的低厚度相关功函数nMOS整合

摘要

膜堆叠及形成膜堆叠的方法,膜堆叠包含在基板上的高k介电层、在高k介电层上的高k覆盖层、在高k覆盖层上的n金属层及在n金属层上的n金属覆盖层。n金属层具有与高k覆盖层相邻的富铝界面。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20180712

    实质审查的生效

  • 2019-12-17

    公开

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