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一种用于深层地层变形量测简易装置及其量测方法

摘要

本发明公开了一种用于深层地层变形量测简易装置,包括全站仪,还包括设置在所述全站仪前端的地层埋设装置,以及设置在变形稳定地层上的量测基准点。还公开了该简易装置的量测方法,该方法包括设置量测基准点,安装地层埋设装置,初始读数和目标测点的变形量测取。本发明装置简单,成本低廉,操作简便,所需场地小,适应性广,可根据需要进行竖直、倾斜以及曲线形状布置,适用于测量城市地下空间开发过程中不同深度地层变形量的测量和建筑物正下方地层变形量的测量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C15/00 申请日:20190830

    实质审查的生效

  • 2019-11-29

    公开

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