首页> 中国专利> 在制备密集型微阵列结构过程中简便去除SU-8光刻胶的方法

在制备密集型微阵列结构过程中简便去除SU-8光刻胶的方法

摘要

一种在制备密集型微阵列结构过程中简便去除SU‑8光刻胶的方法,属于微制造技术领域,在金属铜基底上,经过匀胶、曝光及显影等工艺制作BN308光刻胶胶模作为隔离层。再通过设计掩模版图形,经过匀胶、曝光及显影等工艺制作存在间隙的SU‑8光刻胶胶模,随后进行微电铸和平坦化处理,最后利用溶胀原理去除SU‑8光刻胶得到制作的金属微阵列结构。本发明制作的微阵列结构的间距尺寸可大于25μm小于200μm,结构高度小于100μm。通过预置SU‑8光刻胶胶膜间隙,在不损坏电铸结构的前提下有效地去除了光刻胶,简化了制作工艺,降低了制作难度;另外,本发明具有去胶方便彻底、工艺简单、微结构形貌完好等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN110510574A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201910819530.1

  • 申请日2019-08-31

  • 分类号

  • 代理机构大连理工大学专利中心;

  • 代理人李晓亮

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2024-02-19 15:07:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C1/00 申请日:20190831

    实质审查的生效

  • 2019-11-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号