公开/公告号CN110189974A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-08-30
原文格式PDF
申请/专利权人 卡尔蔡司显微镜有限责任公司;
申请/专利号CN201910140445.2
申请日2019-02-21
分类号H01J37/26(20060101);H01J37/28(20060101);
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人邱军;王蕊瑞
地址 德国耶拿
入库时间 2024-02-19 14:03:10
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-08-30
公开
公开
机译: 用于校正带电粒子辐射位置的程序,用于计算带电粒子辐射位置的校正程度的设备,带电粒子辐射系统以及用于校正带电粒子辐射位置的方法
机译: 用于产生X射线和粒子辐射的设备的纤维化辅助放电的设备以及还用于具有X射线和粒子辐射的设备的熔融反应器的熔融辅助放电的生产装置以及用于产生X射线和粒子辐射的方法
机译: 带电粒子剂量模拟设备,带电粒子束辐射设备,带电粒子剂量模拟方法和带电粒子束辐射方法