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对于测量光刻掩模确定成像光学单元的成像像差贡献的方法

摘要

对于测量光刻掩模确定成像光学单元的成像像差贡献包含:首先焦点相关地测量成像光学单元的3D空间像,按照通过成像光学单元对物体成像的像面的区域中以及与该像面平行的不同测量平面中的2D强度分布的序列。然后由具有散斑图案的测量的2D强度分布的傅里叶变换来确定3D空间像的散斑图案的频谱。对于频域中的多个频谱分量,然后确定所述频谱分量的实部RS(z)和虚部IS(z)的焦点相关性。从实部RS(z)和虚部IS(z)的焦点相关性的确定值,由掩模结构对散斑图案频谱做出的贡献(该贡献将被消除)然后从由成像光学单元对散斑图案频谱做出的成像像差贡献分离出。然后表示成像像差贡献。

著录项

  • 公开/公告号CN110174822A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 卡尔蔡司SMT有限责任公司;

    申请/专利号CN201910135916.0

  • 申请日2019-02-21

  • 分类号G03F7/20(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王蕊瑞

  • 地址 德国上科亨

  • 入库时间 2024-02-19 12:50:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20190221

    实质审查的生效

  • 2019-08-27

    公开

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