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一种用于ESD防护的高鲁棒性ESD器件

摘要

本发明属于电子技术领域,具体涉及静电释放(ESD)保护器件的设计,具体提供一种用于ESD防护的高鲁棒性ESD器件结构,用以提高GGNMOS的鲁棒性。本发明现有GGNMOS结构基础上,在第二种导电类型阱区中采用N个第一种导电类型重掺杂区A1和N个第二种导电类型重掺杂区B1相邻且间隔设置的设计,将器件电流泄放路径由原本的寄生npn1路径和寄生npn2路径两种路径变为寄生npn1路径、寄生npn2路径和SCR路径三种路径;由于电流泄放路径的增加,使得本发明ESD器件相比于传统GGNMOS器件能够实现更高的鲁棒性;同时,本发明高鲁棒性ESD器件与常用的GGNMOS器件所需的版图面积完全一致,即本发明在相同版图面积的情况下,实现了更高的鲁棒性。

著录项

  • 公开/公告号CN110120391A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910353954.3

  • 发明设计人 刘志伟;王琰;杜飞波;刘继芝;

    申请日2019-04-29

  • 分类号H01L27/02(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人甘茂

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2024-02-19 12:22:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/02 申请日:20190429

    实质审查的生效

  • 2019-08-13

    公开

    公开

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