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单晶硅片硼磷同扩的工艺

摘要

本发明属于半导体分立器件领域,具体涉及一种单晶硅片硼磷同扩的工艺。本发明的工艺包括以下的步骤:(1)将扩散炉升温,将附磷、附硼后的硅片放入扩散炉炉口,预热;(2)在扩散炉中持续通入洁净的空气;(3)再次将炉温升高;(4)将附磷的硅片推至恒温区,并且减少通气量;(5)核定扩散时间;(6)达到扩散时间后,降温,改为通氮气,并保温;(7)降温度,并保温;(8)保温结束后,将硅片拉至炉口;(9)预冷,将硅片取出,扩散完毕。采用本发明的工艺,通过一次就扩散完毕,大大的降低了产品的生产周期,提高了效率,节约成本,由于材料少了一次进炉高温的影响,大大的提高了产品的稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN109659224A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南卓微电子有限公司;

    申请/专利号CN201811531398.6

  • 发明设计人 张运;孙者利;王大勇;

    申请日2018-12-14

  • 分类号H01L21/22(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 250200 山东省济南市章丘区明水绣源路中段

  • 入库时间 2024-02-19 09:48:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-19

    公开

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