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一种屏蔽差分多比特硅通孔结构及其制备方法

摘要

本发明公开了一种屏蔽差分多比特硅通孔结构及其制备方法,包括硅衬底、第一介质层、屏蔽外壳、第二介质层、碳纳米管束、第一金属焊盘、第二金属焊盘、第三金属焊盘和第四金属焊盘。本发明将碳纳米管作为传输通道,并在碳纳米管两端设置四个金属焊盘,组成两个信号传输通道,分别传输正信号和负信号,利用了碳纳米管的各向异性,即其纵向电导率比横向电导率大7个数量级,这种正信号和负信号的差分结构设计可有抑制共模噪声和电磁干扰,效提高高速信号的传输质量;同时,本发明屏蔽外壳可以抑制差模噪声干扰,减小了对其他硅通孔的电磁干扰,可提高三维集成电路的整体性能;本发明缩小了差分传输结构的尺寸,有效提高了芯片面积的利用率。

著录项

  • 公开/公告号CN109411433A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201811140729.3

  • 发明设计人 赵文生;胡庆豪;傅楷;王高峰;

    申请日2018-09-28

  • 分类号

  • 代理机构杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人黄前泽

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2024-02-19 08:29:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L23/48 申请日:20180928

    实质审查的生效

  • 2019-03-01

    公开

    公开

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