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可削弱镀层边缘效应的晶圆镀铜工艺槽

摘要

本发明公开了一种可削弱镀层边缘效应的晶圆镀铜工艺槽,解决了晶圆在电镀过程中边缘位置镀层厚度急剧增加的问题。在镀槽(1)中分别设置有阴极杆(3)和阳极杆(6),在阳极杆(6)上配有钛蓝阳极(7),在阴极杆(3)上装有晶圆夹具(4),晶圆(5)设置在晶圆夹具(4)上,晶圆(5)和钛蓝阳极(7)均设置在镀铜液(2)中,在晶圆(5)与钛蓝阳极(7)之间设置有垂直剪切屏(8),晶圆(5)上的中心点与钛蓝阳极(7)上的中心点之间的连线与垂直剪切屏(8)所在平面是相互垂直设置的,垂直剪切屏(8)为栅栏形状,在垂直剪切屏(8)的两平行立柱(9)之间等间隔地设置有L形剪切板(10)。减少了晶圆边缘镀层厚度急剧增加的缺陷,提高了镀层的均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN109518245A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国电子科技集团公司第二研究所;

    申请/专利号CN201811614235.4

  • 发明设计人 魏红军;付明;常志;

    申请日2018-12-27

  • 分类号

  • 代理机构山西华炬律师事务所;

  • 代理人陈奇

  • 地址 030024 山西省太原市和平南路115号

  • 入库时间 2024-02-19 07:28:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C25D7/12 申请日:20181227

    实质审查的生效

  • 2019-03-26

    公开

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