公开/公告号CN109313145A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-02-05
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社理学;
申请/专利号CN201780035084.4
申请日2017-07-12
分类号G01N23/207(20060101);G21K1/06(20060101);G21K5/02(20060101);
代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人张小稳
地址 日本东京
入库时间 2024-02-19 06:52:35
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-03-22
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/207 申请日:20170712
实质审查的生效
2019-02-05
公开
公开
机译: X射线检测装置,X射线薄膜检测方法和摇摆曲线测量方法
机译: X射线检测设备,X射线薄膜检测方法和锁定曲线测量方法
机译: X射线检查装置,X射线薄膜检查方法及摇摆曲线的测定方法