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半导体装置、半导体装置的制造方法以及半导体封装的制造方法

摘要

半导体装置包括基底、第1半导体芯片以及第2半导体芯片。基底具有布线。第1半导体芯片具有第1半导体元件部。第2半导体芯片具有第2半导体元件部,经由上述布线的至少1个与上述第1半导体芯片电连接。第2半导体芯片包括:包括上述第2半导体元件部的第1区域;与上述第1区域连续的第1部分;以及与上述第1区域连续,在与从上述基底朝向上述第1区域的第1方向交叉的第2方向上与上述第1部分远离的第2部分。上述第1半导体芯片的至少一部分、上述第1部分以及上述第2部分分别位于上述基底与上述第1区域之间。

著录项

  • 公开/公告号CN109427761A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社东芝;

    申请/专利号CN201810641693.0

  • 申请日2018-06-21

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人房永峰

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2024-02-19 06:50:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L25/18 申请日:20180621

    实质审查的生效

  • 2019-03-05

    公开

    公开

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