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【2h】

Preparation of Core-Shell SiO_2/Pt Particles via Layer-by-Layer Assembly and Their Electrooxidation and In-situ Electrochemical FTIR Spectra for CO

机译:层状组装制备核壳SiO_2 / Pt颗粒及其电氧化和CO原位电化学FTIR光谱

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摘要

采用层层组装法合成了核壳SIO2/PT粒子,用电化学循环伏安法(CV)和原位电化学傅里叶变换红外(fTIr)光谱研究了SIO2/PT粒子对CO分子的氧化和吸附行为.透射电子显微研究表明:包覆SIO2的PT壳是由团聚的PT纳米微粒构成,其平均厚度大约为26nM.CO在SIO2/PT粒子修饰的玻碳(gC)电极上的主氧化峰为0.49V(VSSCE),表现出比本体PT金属好的催化性能.电化学fTIr光谱研究发现:线性CO在SIO2/PT粒子上的Ir吸收带的方向发生倒反,而且在不同的研究电位下,每个吸收带劈裂为两个间隔约为14CM-1的吸收带,这种劈裂现象在饱和吸附CO的PT金属表面上是很难观察到的.这些异常的红外吸收现象可能是由SIO2/PT粒子的结构效应导致的.
机译:采用层层组装法合成了核壳SIO2/PT粒子,用电化学循环伏安法(CV)和原位电化学傅里叶变换红外(fTIr)光谱研究了SIO2/PT粒子对CO分子的氧化和吸附行为.透射电子显微研究表明:包覆SIO2的PT壳是由团聚的PT纳米微粒构成,其平均厚度大约为26nM.CO在SIO2/PT粒子修饰的玻碳(gC)电极上的主氧化峰为0.49V(VSSCE),表现出比本体PT金属好的催化性能.电化学fTIr光谱研究发现:线性CO在SIO2/PT粒子上的Ir吸收带的方向发生倒反,而且在不同的研究电位下,每个吸收带劈裂为两个间隔约为14CM-1的吸收带,这种劈裂现象在饱和吸附CO的PT金属表面上是很难观察到的.这些异常的红外吸收现象可能是由SIO2/PT粒子的结构效应导致的.

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