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Identification of surface defects in textured materials using wavelet packets

机译:用小波包识别纹理材料中的表面缺陷

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摘要

This paper investigates a new approach for the detection of surface defects, in textured materials, using wavelet packets. Every inspection image is decomposed with a family of real orthonormal wavelet bases. The wavelet packet coefficients from a set of dominant frequency channels containing significant information are used for the characterization of textured images. A fixed number of shift invariant measures from the wavelet packet coefficients are computed. The magnitude and position of these shift invariant measures in a quadtree representation forms the feature set for a two-layer neural network classifier. The neural net classifier classifies these feature vectors into either of defect or defect-free classes. The experimental results suggest that this proposed scheme can successfully identify the defects, and can be used for automated visual inspection.
机译:本文研究了一种使用小波包检测纹理材料表面缺陷的新方法。每个检查图像都使用一系列真实的正交小波基分解。来自一组包含重要信息的主要频率信道的小波包系数用于纹理图像的表征。根据小波包系数计算固定数量的移位不变量度。这些移动不变性度量在四叉树表示中的大小和位置构成了两层神经网络分类器的特征集。神经网络分类器将这些特征向量分为缺陷类或无缺陷类。实验结果表明,该方案可以成功地识别出缺陷,并可以用于自动外观检查。

著录项

  • 作者

    Pang G; Kumar A;

  • 作者单位
  • 年度 2001
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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