首页> 外文OA文献 >Dielectric Properties of Thin Tantalum and Niobium Oxide Layers
【2h】

Dielectric Properties of Thin Tantalum and Niobium Oxide Layers

机译:钽和氧化铌薄层的介电性能

摘要

Dielektrická relaxační spektroskopie je jednou z užitečných metod pro studium molekulární dynamiky materiálů. Díky nedávnému pokroku v přístrojové a měřicí technice je dnes možné získat dielektrické spektrum v širokém frekvenčním intervalu a pro velice rozdílné materiály. Cílem mé práce bylo studium dielektrických relaxačních spekter a vodivosti oxidů titanu, niobu, tantalu, lanthanu a hafnia pro katody pracující na principu studené emise. Cílem výzkumu bylo analyzovat frekvenční a teplotní chování těchto oxidů, včetně jejich vodivosti, v širokém frekvenčním a teplotním rozsahu, a pokusit se stanovit původ relaxačního mechanismu. Vzhledem k tomu, že původně zadaný rozsah oxidů byl dosti široký, soustředila se pozornost pouze na oxidy tantalu a niobu, rovněž s ohledem na jejich aplikace v elektrolytických kondenzátorech. Elektrické, tepelné a mechanické (při zpracování) vlastnosti oxidů tantalu a niobu jsou dnes již dobře prozkoumány. K dispozici je však jen málo poznatků o jejich dielektrických relaxačních mechanismech. Výsledky získané pro Ta2O5 ukazují existence relaxačního maxima, nacházejícího se v experimentálně dostupném teplotním a frekvenčním intervalu 187 K – 385 K a 1 Hz – 10 MHz. Frekvence ztrátového maxima se řídí Arrheniovým zákonem s aktivační energií 0.048 eV. Ve vodivostních spektrech vykazují tenké vrstvy Ta2O5 na nízkých frekvencích ustálenou hodnotu a při vysokých frekvencích monotónní nárůst, který závisí na teplotě. Pozorovanou vodivost lze popsat mocninnou funkcí s exponentem nepatrně větším než jedna (tzv. superlineární závislost). Výsledky získané pro Nb2O5 v podobné teplotní a frekvenční oblasti, 218 K – 373 K, 1 Hz – 1 MHz rovněž ukazují jedno relaxační maximum. Frekvence ztrátového maxima se opět řídí Arrheniovým zákonem s poněkud vyšší aktivační energií 0.055 eV. Niobové kondenzátory vykazují vodivostní mechanismus shodný s kondenzátory tantalovými.
机译:介电弛豫光谱法是研究材料分子动力学的有用方法之一。由于仪器和测量技术的最新进展,现在可以在很宽的频率范围内以及针对非常不同的材料获得介电谱。我的工作目的是研究基于冷发射原理的阴极用钛,铌,钽,镧和ha的氧化物的介电弛豫谱和电导率。该研究的目的是分析这些氧化物在较宽的频率和温度范围内的频率和温度行为,包括其电导率,并试图确定弛豫机理的起源。由于最初规定的氧化物范围很广,因此,重点仅放在钽和铌的氧化物上,以及它们在电解电容器中的应用。钽和铌氧化物的电,热和机械(加工过程中)性能今天已经得到很好的研究。但是,关于它们的介电弛豫机理几乎没有。 Ta2O5的结果表明存在最大弛豫,位于实验可用温度和频率范围187 K-385 K和1 Hz-10 MHz中。最大损耗的频率由阿伦尼乌斯定律控制,其激活能为0.048 eV。在电导率光谱中,Ta2O5薄层在低频下显示恒定值,而在高频下显示单调增加,这取决于温度。所观察到的电导率可以通过幂函数来描述,该幂函数的指数略大于1(所谓的超线性相关性)。在相似的温度和频率范围(218 K-373 K,1 Hz-1 MHz)下获得的Nb2O5结果也显示出一个弛豫最大值。最大损耗的频率再次由阿伦尼乌斯定律控制,其活化能稍高,为0.055 eV。铌电容器具有与钽电容器相同的导电机制。

著录项

  • 作者

    Abuetwirat Inas Faisel;

  • 作者单位
  • 年度 2014
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号