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Röntgendiffraktometrische Charakterisierung von Germanium-Nanokristalliten auf und in Siliziumkarbid

机译:碳化硅上和碳化硅中锗纳米微晶的X射线衍射表征

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摘要

In der vorliegenden Arbeit wunden aufgewachsene und in ca. 100nm Tiefe von vergrabene Germanium-Nanokristallite charakterisiert, die mittels Molekular-Strahl-Epitaxie und Ionen-Implantation mit anschließender Temperaturbehandlung erzeugt wurden. Die Messungen wurden an einem Synchrotron der dritten Generation, der ESRF in Grenoble, mit coplanarer Röntgendiffraktomerie durchgeführt. Es wurde die gemittelte Nanokristallit-Größe und die Orientierung in normale und laterale Richtung bestimmt. Der Germanium-Gehalt in den Nanokristalliten wurde unter Ausnutzung der anomalen Dispersion von Germanium bestimmt. Die vergrabenen Nanokristallite sind zeitlich nicht stabil, eine Größenzunahme in alle Richtungen ist wahrscheinlich.
机译:在本工作中,表征了受伤的锗纳米晶体,该晶体生长到约100 nm的深度并通过分子束外延和离子注入以及随后的温度处理来表征。测量是在第三代同步加速器(格勒诺布尔的ESRF)上进行的,共面X射线衍射。确定平均纳米微晶尺寸和法向和横向方向。使用锗的反常分散来确定纳米微晶中的锗含量。掩埋的纳米微晶随着时间的过去是不稳定的,并且在各个方向上的尺寸都有可能增加。

著录项

  • 作者

    Wunderlich Bettina;

  • 作者单位
  • 年度 2004
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 deu
  • 中图分类

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