摘要：X射线荧光分析法中的玻璃熔片法可以消除粉末压片法的粒度效应和矿物效应等带来的不均匀效果的影响.所以,在粉末样品的定量分析中被经常使用. 磁铁矿等铁矿石矿物含有大量的四氧化三铁(Fe3O4),如果用熔融法制作玻璃熔片的话,四氧化三铁将被氧化,在玻璃熔片中铁作为Fe2O3而存在.因此,这样的样品做成玻璃熔片时会发生大量的烧增量.另一方面,有些铁矿石中含有10％的化合水,这样的情况下,由于水分的挥发产生烧失量.除此之外,熔融中的熔剂的挥发、秤量的样品、熔剂、氧化剂的重量的变动也对测量的X射线的强度带来影响. ZSX Primus系列仪器的软件可以对这些影响予以校正.本文对考虑到由于熔融带来样品等重量的变化的X射线强度公式进而导出校正工作曲线公司的方法做了解说.同时,明示了可以将各校正系数近似地用吸收系数进行表示. 理学ZSX Primus系列仪器的软件,可以使用基本参数法计算求得校正系数.在铁矿石的铁的分析时,使用利用FP法求得的校正系数对共存元素的吸收的影响和烧失量·烧增量进行校正,由此可以获得总铁量0.08mass％的准确度.同时,也验证了熔剂的挥发、氧化剂重量的校正方法.
