Recent Radiation Test Results for Trench Power MOSFETs.

著录项

• 作者

  Lauenstein, J.; Casey, M. C.; Wilcox, E. P.; Phan, A. M.; Kim, H. S.; Topper, A. D.; Ladbury, R. L.; Label, K. A.;

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• 作者单位

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• 年度 2017
• 页码 1-8
• 总页数 8
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Metal oxide semiconductors; Field effect transistors; Linear energy transfer (let); Galactic cosmic rays; Schottky diodes; Risk; Ions; Failure;

  机译：金属氧化物半导体;场效应晶体管;线性能量转移（let）;银河宇宙射线;肖特基二极管;风险;离子;失效;