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Heavy-Ion Testing of the Freescale Qorivva 32-bit Automotive-Grade MCU.

机译：飞思卡尔Qorivva 32位汽车级mCU的重离子测试。

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作者
Wilcox, T.; Seidleck, C.; Casey, M.; LaBel, K.;
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作者单位

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年度 2016
页码 1-18
总页数 18
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类
关键词
Aerospace engineering; Failure modes; Voltage regulators; Heavy ions; Low cost; Errors;

机译：航空航天工程;故障模式;电压调节器;重离子;低成本;错误;
入库时间 2022-08-29 10:46:56

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