First-Order SPICE Modeling of Extreme-Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits.

著录项

• 作者

  Neudeck, P. G.; Spry, D. J.; Chen, L.;

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• 作者单位

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• 年度 2016
• 页码 1-9
• 总页数 9
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Integrated circuits; Silicon carbides; Jfet; Microelectronics; Durability; High temperature; Computerized simulation; Fabrication; Circuits; Digital electronics; Analog circuits; Bias; Computer techniques;

  机译：集成电路;碳化硅; Jfet;微电子;耐久性;高温;计算机模拟;制造;电路;数字电子学;模拟电路;偏置;计算机技术;